產(chǎn)品分類PRODUCT CLASSIFICATION
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產(chǎn)品展示-
- OPTM 系列顯微分光膜厚儀
OPTM 系列顯微分光膜厚儀使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間上，能達到1秒/點的高速測量，并且搭載了即使是初次使用的用戶，也可容易出分析光學常數(shù)的軟件。
- 型號：
- 更新日期：2024-09-26
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