極紫外平面反射鏡

簡要描述：極紫外平面反射鏡
最大可實現(xiàn) 13.5nm 反射
專為極紫外線光束轉向和諧波分離而設計
5°和45°自動光學檢驗的可用版本

產(chǎn)品型號：
廠商性質：經(jīng)銷商
更新時間：2024-09-25
訪問量：357

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產(chǎn)品介紹

品牌	Edmund Optics

極紫外平面反射鏡通用規(guī)格：

直徑 (mm):

25.40 ±0.25

表面平整度 (P-V):

λ/10 @ 632.8nm

基底:

Single Crystal Silicon

涂層:

Mo/Si Multilayer
Top Layer: Silicon

鍍膜類型:

Metal/Semiconductor

表面粗糙度（埃）:

<3 RMS

厚度 (mm):

6.35 ±0.508

厚度容差 (mm):

0.508

產(chǎn)品編碼	Dia. (mm)	表面平整度 (P-V)	基底
38-759	25.40 ±0.25	λ/10 @ 632.8nm	Single Crystal Silicon
38-760	25.40 ±0.25	λ/10 @ 632.8nm	Single Crystal Silicon

極紫外平面反射鏡是多層反射鏡，在其設計波長和入射角下實現(xiàn)最大反射率。這些反射鏡的特點是反射涂層沉積在一個超拋光的單晶硅基板上，表面粗糙度小于3? RMS. 45°自動光學檢驗反射鏡可用于轉向s偏振光束，而 5° 自動光學檢驗反射鏡可用于非偏振光束. 極紫外線反射鏡的應用包括相干衍射成像 (CDI) 和材料科學研究。紫外平面反射鏡也可用作高次諧波 (HHG) 光束的諧波選擇器.

注意: 附帶每個反射鏡運行樣本的測試數(shù)據(jù).

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